年度 2011
全部作者 翁 久幸
论文名称 A Bayesian rating system using W-Stein's identity
会议名称 International Conference on Advances in Probability and Statistics - Theory and Applications. The Chinese University of Hong Kong
地点 Hong Kong
会议开始时间 2011-12-28
会议结束时间 2011-12-31
语言 中文